[发明专利]热解石墨基片上微结构的实现方法无效

专利信息
申请号: 200710171887.0 申请日: 2007-12-06
公开(公告)号: CN101200281A 公开(公告)日: 2008-06-18
发明(设计)人: 张卫平;陈文元;刘武;张忠榕 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开一种微机电技术领域的热解石墨基片上微结构的实现方法,采用热解石墨作为基片,对基片进行平整化、清洗、绝缘化处理以及再清洗;在热解石墨基片背面做光刻对准标记,通过多层套刻,实现多层结构或高深宽比结构;在基片正面溅射金属薄膜作为种子层,甩正胶,光刻、显影,制作电镀模具,电镀结构层,经两次甩正胶、光刻、显影和电镀后,去正胶、超声清洗、溅射氧化铝,而后研磨基片并做清洁处理;在氧化铝上溅射金属薄膜作种子层,再在种子层上甩SU8负胶,通过光刻、显影和电镀,去SU8负胶,去氧化铝,实现热解石墨上制作高深宽比微结构。本发明基片材料新颖,加工器件具有特殊性能。
搜索关键词: 石墨 基片上 微结构 实现 方法
【主权项】:
1.一种热解石墨基片上微结构的实现方法,其特征在于:包括以下步骤:第一步,采用正胶工艺以及SU8负胶和准LIGA技术,采用热解石墨作为基片,在加工前对基片做平整化、清洗、绝缘化以及再清洗准备工作;第二步,在热解石墨基片一面做光刻用背面对准标记,该面为背面,以后每层结构的光刻均使用双面曝光的光刻机,同时背面对准标记进行对焦,通过多层套刻,实现多层结构或高深宽比结构;第三步,热解石墨在基片经过准备工作以及背面做好背面对准标记后,在基片另一面为正面,溅射金属薄膜作为种子层,在种子层上甩正胶,光刻、显影后,制作电镀结构层的模具;第四步,在电镀结构层的模具中的种子层上电镀结构层,经两次甩正胶、光刻、显影和电镀后,去正胶、超声清洗、溅射氧化铝,而后研磨基片并做清洁处理;第五步,在氧化铝上溅射金属薄膜作种子层,再在种子层上甩SU8负胶,通过光刻、显影和电镀,去SU8负胶,去氧化铝,实现热解石墨上制作高深宽比微结构。
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