[发明专利]铝合金铸锭偏析层检测方法在审
| 申请号： | 201910587406.7 | 申请日： | 2019-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN112179921A | 公开（公告）日： | 2021-01-05 |
| 发明（设计）人： | 冯中慧;倪欢;尹斌 | 申请（专利权）人： | 晟通科技集团有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00;G01N1/08;G01N1/28;G01N1/32;G01B15/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 410200 湖南省常*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明属于材料性能检测方法技术领域，公开了一种铝合金铸锭偏析层检测方法，包括如下步骤：S1，取样：从待检测的铝合金圆铸锭上切割出样品，得到偏析层试样；S2，制样：对所述偏析层试样依次进行粗磨、细磨、机械抛光、电解抛光、试样浸蚀，制出金相试样；S3，处理：采用电子显微镜进行偏析层图像拍摄；对拍摄的图像进行测量；得到偏析层试样的偏析层厚度；S4，评判：将多个所述偏析层试样的偏析层厚度的平均值作为所述待检测的铝合金圆铸锭的偏析层厚度的最终检测结果。与相关技术相比，本发明的有益效果在于，明确了铝合金圆铸锭偏析层的取样、制样、检测、评判的方法和标准，提高了检测结果的均匀性、代表性和科学性。 | ||
| 搜索关键词： | 铝合金 铸锭 偏析 检测 方法 | ||
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- 本实用新型涉及探伤机技术领域，且公开了一种超高频X射线探伤机，包括检测壳体和探伤机，所述检测壳体的内顶壁上固定连接有转动座，所述转动座的底部转动连接有安装板，所述检测壳体的内顶壁上固定连接有液压推杆，所述液压推杆的输出端上固定连接有铰接件，所述铰接件远离液压推杆的一端转动连接有与安装板活动连接的定位滑块，所述检测壳体的侧壁上固定安装有驱动电机，所述驱动电机的输出轴上固定连接有螺纹转轴，所述螺纹转轴的外部螺纹连接有移动座，所述移动座的顶部设置有固定组件。该超高频X射线探伤机，通过使管件进行旋转，并对管件的检测位置进行移动，提高检测范围，还可以使探伤机转动对检测的角度进行调节。
- 基于210Pbex核素示踪技术定量评估流域土壤侵蚀的方法-202211609713.9
- 黄智刚;王旭;李勇 - 广西大学
- 2022-12-14 - 2023-09-26 - G01N23/00
- 本发明属于农业面源污染技术领域，具体涉及一种基于210Pbex核素示踪技术定量评估流域土壤侵蚀的方法，包括以下步骤：(1)采集
- 一种IGBT模块检测的X-RAY检测设备-202321194192.5
- 谢光红;赵红艳 - 深圳市康姆智能装备有限公司
- 2023-05-17 - 2023-09-26 - G01N23/00
- 本实用新型公开了一种IGBT模块检测的X‑RAY检测设备，包括工作台，所述第二螺纹杆上螺纹安装有固定套，所述推板上设置有多组真空吸盘；通过第二驱动电机、第二螺纹杆、固定架与真空吸盘等结构的设计，通过气缸、推板与真空吸盘配合，从而可对放置框固定，通过第二驱动电机、第二螺纹杆、固定套与固定架配合，通过第二驱动电机的输出轴转动带动第二螺纹杆转动，通过第二螺纹杆转动时带动固定套移动，通过固定套配合固定套可带动放置框移动，使放置框能够移动至箱体内，通过气缸、推板与真空吸盘配合，从而可将放置框放置在箱体内，可一次实现对多个IGBT模块上料，可节省对IGBT模块的上料时间，进而提高设备检测效率。
- 一种紧凑一体式的卧式CT系统-202310854053.9
- 刘浩;未永;杨晋宝 - 天津三英精密仪器股份有限公司
- 2023-07-12 - 2023-09-22 - G01N23/00
- 本发明提供了一种紧凑一体式的卧式CT系统，样品水平输送平台通过样品Z轴输送平台安装样品台，且待测样品放置至样品台内，样品水平输送平台能够依次带动样品Z轴输送平台、样品台和待测样品沿轴向滑动，且样品水平输送平台外围设置CT检测环组件，轴向滑动的待测样品能够穿过CT检测环组件。本发明所述的一种紧凑一体式的卧式CT系统，外箱体采用一体式可抽拉分离形式，大大缩短了箱体尺寸和抽拉分离尺寸，减小设备的占地面积；样品Z轴输送平台实现了不同直径样品的自动对心，方便检测；样品床的V型槽形状可以试用多种不同直径的样品防止。
- 一种基于同步辐射的掠入射X射线半导体检测平台-202310743830.2
- 杨迎国 - 复旦大学
- 2023-06-23 - 2023-09-22 - G01N23/00
- 本发明属于半导体检测技术领域，具体为基于同步辐射的掠入射X射线半导体检测平台。本发明检测平台包括液体滴加装置、样品承载装置、支撑装置。本发明利用同步辐射X射线快速表征半导体薄膜信息，实现原位观测钙钛矿等半导体的结晶行为；同时通过调整样品台的高度、角度，实现以不同的X射线掠入射角检测样品信号，获得钙钛矿薄膜不同深度的信息，为深入理解钙钛矿等半导体薄膜生长机制提供有力表征手段。
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