[发明专利]芯片测试装置及系统在审
| 申请号： | 201911020750.4 | 申请日： | 2019-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN110780180A | 公开（公告）日： | 2020-02-11 |
| 发明（设计）人： | 官绪冬;吴继君 | 申请（专利权）人： | 长江存储科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/265 | 分类号： | G01R31/265;G01R31/26 |
| 代理公司： | 11449 北京成创同维知识产权代理有限公司 | 代理人： | 蔡纯;李向英 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种芯片测试装置及系统。所述芯片测试装置包括：上位机接口，与上位机连接，从所述上位机接收控制信号，以控制芯片的测试模式；测试接口，与芯片连接，向所述芯片提供与所述测试模式对应的所述测试信号；光源接口，与外部光源连接，向所述外部光源提供光源信号；以及控制模块，与所述上位机接口、所述测试接口和所述光源接口相连接，其中，所述控制模块根据所述测试信号控制所述光源信号，使得所述外部光源与所述芯片的测试时序同步开启和关闭。本申请的测试装置增加了光源接口，经由光源接口与外部光源相连接，从而扩展了芯片测试装置的测试功能。 | ||
| 搜索关键词： | 光源接口 外部光源 芯片测试装置 上位机接口 测试接口 测试模式 测试信号 光源信号 控制模块 上位机 芯片 接收控制信号 测试功能 测试时序 测试装置 控制芯片 同步开启 芯片连接 申请 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试装置，包括：/n上位机接口，与上位机连接，从所述上位机接收控制信号，以控制芯片的测试模式；/n测试接口，与芯片连接，向所述芯片提供与所述测试模式对应的所述测试信号；/n光源接口，与外部光源连接，向所述外部光源提供光源信号；以及/n控制模块，与所述上位机接口、所述测试接口和所述光源接口相连接，/n其中，所述控制模块根据所述测试信号控制所述光源信号，使得所述外部光源与所述芯片的测试时序同步开启和关闭。/n
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- 芯片测试装置及系统-201911020750.4
- 官绪冬;吴继君 - 长江存储科技有限责任公司
- 2019-10-25 - 2020-02-11 - G01R31/265
- 本申请公开了一种芯片测试装置及系统。所述芯片测试装置包括：上位机接口，与上位机连接，从所述上位机接收控制信号，以控制芯片的测试模式；测试接口，与芯片连接，向所述芯片提供与所述测试模式对应的所述测试信号；光源接口，与外部光源连接，向所述外部光源提供光源信号；以及控制模块，与所述上位机接口、所述测试接口和所述光源接口相连接，其中，所述控制模块根据所述测试信号控制所述光源信号，使得所述外部光源与所述芯片的测试时序同步开启和关闭。本申请的测试装置增加了光源接口，经由光源接口与外部光源相连接，从而扩展了芯片测试装置的测试功能。
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