[发明专利]用于形成碳氧化硅层的方法和系统及使用其形成的结构在审

专利信息
申请号: 202310423857.3 申请日: 2023-04-19
公开(公告)号: CN116949433A 公开(公告)日: 2023-10-27
发明(设计)人: 冉凡勇;刘泽铖;久保田智广;吉田嵩志;冈部介 申请(专利权)人: ASMIP私人控股有限公司
主分类号: C23C16/515 分类号: C23C16/515;C23C16/30;C23C16/455;C23C16/52;H01L21/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 焦玉恒
地址: 荷兰阿*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 公开了在衬底表面上形成碳氧化硅层的方法。示例性方法包括向反应室提供无氧反应物,并执行一个或多个沉积循环,其中每个沉积循环包括在硅前体脉冲周期内向反应室提供硅前体,并且在等离子体功率周期内提供等离子体功率,以形成碳氧化硅层。示例性硅前体包括含有硅、氧、碳和可选的氮的分子。硅前体可以进一步包括以下中的一个或多个:(i)一个或两个硅‑氧键,(ii)一个或两个硅‑碳键,或(iii)一个碳‑碳双键。
搜索关键词: 用于 形成 氧化 方法 系统 使用 结构
【主权项】:
暂无信息
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