[发明专利]用于结构光深度图的离群值检测和校正的方法和设备有效
申请号: | 201680072006.7 | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN108369729B | 公开(公告)日: | 2019-11-12 |
发明(设计)人: | A·J·林德纳;K·M·阿塔纳索夫;S·M·维罗尔 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T7/521 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 杨林勳 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 深度图 节段 密度分布 校正 方法和设备 结构光系统 范围表示 整体检测 结构光 检测 | ||
1.一种设备,其包括:
发射器,其经配置以投影视野中的多个码字;
接收器,其经配置以接收所投影码字的每一者从所述视野中的表面的反射;以及
处理器,其经配置以:
基于接收到的反射产生深度图,每一反射具有相应的深度值;
确定所述深度图的多个节段,每一节段包括若干所述反射;
确定每一节段中的下部分位数深度值和上部分位数深度值;以及
基于每一节段中的所述下部分位数深度值和所述上部分位数深度值,产生用于所述深度图的全局深度范围。
2.根据权利要求1所述的设备,其中基于以下各项中的至少一者来确定所述上部分位数深度值和所述下部分位数深度值:(i)直方图分位数演算和(ii)均值和方差演算,所述演算中的每一者基于每一节段中的深度值范围和所述深度值范围的连续子集,所述连续子集表示所述节段中的深度值的密度。
3.根据权利要求2所述的设备,其中范围深度值的所述连续子集包括所述下部分位数深度值和所述上部分位数深度值,所述下部分位数深度值是所述连续子集内的最低深度值,且所述上部分位数是所述连续子集中的最高深度值。
4.根据权利要求1所述的设备,其中所述发射器经由传播光通过代码掩码来投影所述多个码字,所述代码掩码具有多个符号。
5.根据权利要求1所述的设备,其中所述处理器经由检测所述深度图中在所述全局深度范围之外的深度值,来确定落入所述全局深度范围之外的给定深度值是否存在于所述深度图中。
6.根据权利要求1所述的设备,其中所述多个节段包括所述深度图的重叠区。
7.根据权利要求1所述的设备,其中所述多个节段中的每一节段的大小是用户可配置的。
8.根据权利要求1所述的设备,其中所述处理器进一步经配置以确定落入所述全局深度范围之外的给定深度值是否存在于所述深度图中。
9.根据权利要求8所述的设备,其中所述处理器进一步经配置以:
识别所述深度图中的离群深度值;以及
基于所述深度图中的信息来校正所述离群深度值。
10.根据权利要求9所述的设备,其中所述处理器经由以下步骤来校正所述离群深度值:
确定与所述离群深度值相邻的多个深度值,所述多个深度值在所述全局深度范围内;
基于所述多个深度值来计算第一深度值;以及
用所述第一深度值来替换所述离群深度值。
11.根据权利要求10所述的设备,其中所述第一深度值是所述多个深度值的平均值。
12.根据权利要求9所述的设备,其中所述处理器经由以下步骤来校正所述离群深度值:
确定与所述离群深度值相邻的多个深度值,所述多个深度值在所述全局深度范围内;
计算所述相邻深度值的水平梯度和垂直梯度中的至少一者;
基于所述水平梯度和所述垂直梯度中的所述至少一者来计算第一深度值;以及
用所述第一深度值来替换所述离群深度值。
13.根据权利要求1所述的设备,其中所述全局深度范围具有基于所述节段的所述下部分位数深度值的最小值以及基于所述节段的所述上部分位数深度值的最大值。
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