[发明专利]一种红外处理ADC电路性能比测方法在审
| 申请号： | 201811332187.X | 申请日： | 2018-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN109387777A | 公开（公告）日： | 2019-02-26 |
| 发明（设计）人： | 张广伟;孙小亮;王凯;朱寅非 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 |
| 主分类号： | G01R31/3181 | 分类号： | G01R31/3181 |
| 代理公司： | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人： | 王鲜凯 |
| 地址： | 471099 *** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 红外处理 客观评价 快速评价 对比分析 同一信号 采集 | ||
【权利要求书】：
1.一种红外处理ADC电路性能比测方法，其特征在于步骤如下：
步骤1：以一块性能指标满足使用要求的ADC电路作为标准ADC电路；
步骤2：根据需要选取某一ADC电路的性能指标为敏感指标；
步骤3：搭建该敏感指标的测试环境；
步骤4：在一小时内分别测试标准ADC电路和被测ADC电路的敏感指标；
步骤5：若被测ADC电路的敏感指标不低于标准ADC电路的敏感指标，则该被测电路满足使用要求。
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