[发明专利]一种红外处理ADC电路性能比测方法在审
| 申请号： | 201811332187.X | 申请日： | 2018-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN109387777A | 公开（公告）日： | 2019-02-26 |
| 发明（设计）人： | 张广伟;孙小亮;王凯;朱寅非 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 |
| 主分类号： | G01R31/3181 | 分类号： | G01R31/3181 |
| 代理公司： | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人： | 王鲜凯 |
| 地址： | 471099 *** | 国省代码： | 河南;41 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种红外处理ADC电路性能比测方法,使被测红外处理ADC电路与标准红外处理ADC电路对同一信号源进行采集，对比分析两个被测ADC电路与标准ADC电路测试结果，进而客观评价被测红外处理ADC电路性能与标准红外处理ADC电路之间的差异。该方法可快速评价红外处理ADC电路的优劣。本发明方法可快速对比被测ADC电路与标准ADC电路测试结果，客观评价被测ADC电路性能与标准ADC电路之间的差异。该方法可快速评价ADC电路的优劣。 | ||
| 搜索关键词： | 红外处理 客观评价 快速评价 对比分析 同一信号 采集 | ||
【主权项】：
1.一种红外处理ADC电路性能比测方法，其特征在于步骤如下：步骤1：以一块性能指标满足使用要求的ADC电路作为标准ADC电路；步骤2：根据需要选取某一ADC电路的性能指标为敏感指标；步骤3：搭建该敏感指标的测试环境；步骤4：在一小时内分别测试标准ADC电路和被测ADC电路的敏感指标；步骤5：若被测ADC电路的敏感指标不低于标准ADC电路的敏感指标，则该被测电路满足使用要求。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所，未经中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811332187.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 一种试验用铜导体支架-201822036095.9
- 龙剑;赵选国;吴启辉;沈宗丞;白建伟 - 昆明高海拔电器检测有限公司
- 2018-12-06 - 2019-09-20 - G01R31/3181
- 本实用新型提供一种试验用铜导体支架，包括上横梁，下横梁，上横梁和下横梁上部间隔设置有若干支撑杆，支撑杆上水平设置有支撑板用于放置铜导体，上横梁左右两侧竖直设置有上立柱，下横梁左右两侧竖直设置有下立柱，下立柱底部设置有行走轮，地面上设置有齿带，下横梁中部固定设置有驱动电机，驱动电机左侧中心位置设置有齿轮，齿轮与齿带形成配合，利用全新升级的试验支架，既能方便通过叉车整体移动运输，而且可实现升降多层摆放，占地面积小，改造经费投入较小，不仅能用于试验铜导体的放置，而且可以推广到各种场合进行堆放物料使用。
- 一种SOC芯片的测试方法、装置、设备和存储介质-201811426321.2
- 颜军;赵厉;唐芳福;张志国;龚永红 - 珠海欧比特宇航科技股份有限公司
- 2018-11-27 - 2019-04-16 - G01R31/3181
- 本发明公开了一种SOC芯片的测试方法、装置、设备和存储介质。根据多功能接口的所有待测功能信息和对应的预设测试信息生成仿真文件，将所述仿真文件转换成用于测试机台的测试向量信息，并在检测到通过测试向量信息中的测试模式和信号脚信息完成测试并输出测试数据。提高了测试效率。
- 一种数字电路系统的测试方法-201610972232.2
- 刘杰;帅涛;赵广东;陈鹏飞;张喆;黄奕 - 上海航天测控通信研究所;中国科学院上海天文台
- 2016-11-04 - 2019-03-12 - G01R31/3181
- 本发明提供一种数字电路系统的测试方法，通过加电前的电源接口阻抗测试，加电后的电压正确性测试、锁相环模块时钟测试、DDS准确度与同源稳定度测试、AD/DA通路性能测试，依次对数字电路系统中协作的模块进行测试，可以保证数字电路系统中主要模块的功能及性能得到全面的测试，可以有效地评估数字电路系统的相应指标，能够最快速度得到测试结果，可靠性高。
- 一种红外处理ADC电路性能比测方法-201811332187.X
- 张广伟;孙小亮;王凯;朱寅非 - 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
- 2018-11-09 - 2019-02-26 - G01R31/3181
- 本发明涉及一种红外处理ADC电路性能比测方法,使被测红外处理ADC电路与标准红外处理ADC电路对同一信号源进行采集，对比分析两个被测ADC电路与标准ADC电路测试结果，进而客观评价被测红外处理ADC电路性能与标准红外处理ADC电路之间的差异。该方法可快速评价红外处理ADC电路的优劣。本发明方法可快速对比被测ADC电路与标准ADC电路测试结果，客观评价被测ADC电路性能与标准ADC电路之间的差异。该方法可快速评价ADC电路的优劣。
- 用于集成电路的检测电路和方法-201410353856.7
- 陈先敏;杨家奇 - 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
- 2014-07-23 - 2019-01-08 - G01R31/3181
- 本发明公开了一种用于集成电路的检测电路和方法。其中，该用于集成电路的检测电路包括：基准电流支路，用于提供基准电流；熔烧电流支路，连接有熔丝，用于提供熔断熔丝的熔断电流；比较器，第一输入端和第二输入端分别连接于基准电流支路和熔烧电流支路，用于比较基准电流支路的电流值与熔烧电流支路的电流值的大小；以及逻辑电路，与比较器的输出端相连接，用于根据比较结果判断是否将熔烧电流支路的电流值作为熔断电流。通过本发明，解决了现有技术集成电路中熔断电流不准确的问题，进而达到了提高集成电路中熔断电流的准确性效果。
- FPGA中嵌入式DSP内乘法器的测试方法-201610338155.5
- 来金梅;张智倩;王健 - 复旦大学
- 2016-05-22 - 2018-11-13 - G01R31/3181
- 本发明属于集成电路技术领域，具体为FPGA中嵌入式DSP内乘法器的测试方法。本发明包括一种乘法器压缩电路结构描述方式定义和自动产生最优测试向量集的方法，该向量集可以实现高故障覆盖率和低测试时间。针对给定编码方式和部分积压缩电路结构的乘法器，能自动提供一个最优的测试向量集。本发明能够很好的完成对FPGA中嵌入式DSP的测试，具有测试故障覆盖率高、成本低、可移植性好、通用性强等特点。
- 一种芯片片上三态信号检测装置及其检测方法-201510456236.0
- 陈晓龙;沈煜;金学成 - 英特格灵芯片（天津）有限公司
- 2015-07-29 - 2018-05-25 - G01R31/3181
- 本发明涉及一种芯片片上三态信号检测装置及其检测方法。该检测装置包括第一电流源、第二电流源、第一开关、第二开关、阈值比较单元、数字控制单元。第一电流源与第一开关第一端相连，第一开关第二端与第二开关第一端相连，第二开关第二端与第二电流源相连。数字控制单元控制第一开关、该第二开关的闭合和/或断开，以形成两种不同的拓扑结构。基于该拓扑结构中的一个，该阈值比较单元第一输入端接收与三态输入信号相关的电压。该阈值比较单元第二输入端接收参考电压，比较该相关电压与该参考电压之间的大小关系，以便数字控制单元基于该比较结果检测出输入信号状态。本发明检测功耗低，检测结果可靠性高，可广泛应用于芯片接口信号片上检测领域。
- 测试机存储测试向量的方法-201510087479.1
- 余琨;罗斌;牛勇;祁建华;王玉龙;岳小兵 - 上海华岭集成电路技术股份有限公司
- 2015-02-25 - 2017-12-08 - G01R31/3181
- 本发明提出了一种测试机存储测试向量的方法，通过对单个测试向量进行重复行、重复段的压缩、对多个测试向量相同功能的向量段以及物理重复的向量段进行提取，实现节约测试机向量存储空间，不仅避免了对硬件升级造成额外花费的问题，还解决了多次加载测试向量，造成测试时间过长的问题。
- 一种数字同步网节点时钟设备性能自动测试平台-201510069186.0
- 楚鹰军;孙秀枝;黄嘉;陆纯辉 - 电信科学技术第五研究所
- 2015-02-10 - 2017-09-19 - G01R31/3181
- 本发明公开了一种数字同步网节点时钟设备性能自动测试平台，所述平台包括铯原子钟、频率变换模块、频率分配模块、漂移噪声模板生成模块、多路相位测量模块、测试控制模块、测试分析模块，实现了利用数字同步网节点时钟设备性能自动测试平台能够高效、批量、简便的完成测试，测试效率高，不需要多余的仪表，测试结论易获得，自动化程度高，达到了提高了生产效率的技术效果。
- CPU器件测试图形向量的生成方法-201610470958.6
- 宋芳;简力;李永梅;杨怡;宋伟超;罗向阳;陈章涛;袁云华;赵永兴 - 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
- 2016-06-23 - 2016-11-23 - G01R31/3181
- 本发明涉及CPU器件测试图形向量的生成方法，包括以下步骤：使用汇编语言或C语言分段编写源程序；软件仿真，形成最终源程序和存储器支持的可烧录文件；搭建由集成电路测试机和辅助电路板组成的开发系统；引导并运行最终源程序，输出结果；采集并记录CPU的输入输出信息，形成最初测试图形向量；摆脱辅助电路板，由集成电路测试机模拟外部存储器，生成测试图形向量。本发明通过集成电路测试机来模拟外部存储器，按照存储器的读写时序给CPU传输程序，这样不仅可以有效的避免外围器件的影响，还简化了测试程序，无需事先对CPU烧录程序，可直接上机测试。同时，采用分段编写源程序，既降低了源程序的复杂程度，又可以有效地进行故障定位。
- 一种集成电路功耗测试系统和方法-201510091782.9
- 方向明;杨志炜 - 深圳市中兴微电子技术有限公司
- 2015-02-28 - 2016-10-05 - G01R31/3181
- 本发明公开了一种集成电路功耗测试系统，包括：上位机、功耗测试板和集成电路测试板；其中，上位机用于设置被测集成电路的电压数据和多个工作场景数据；功耗测试板用于根据所述电压数据输出电压至集成电路测试板，并输出所述多个工作场景数据至所述集成电路测试板；还用于同步采集所述每个工作场景下被测集成电路的电流数据，并计算所述每个工作场景下被测集成电路的功耗数据；集成电路测试板用于根据所述多个工作场景数据依次对每个工作场景进行测试，并在所述每个工作场景开始的时刻输出所述每个工作场景数据至所述功耗测试板。本发明还同时公开了一种集成电路功耗测试方法。
- 一种SRAM型FPGA触发器抗单粒子效应性能评估系统及方法-201610087813.8
- 李学武;冯长磊;朱志强;张进成;陈雷;张帆;孙雷;王媛媛 - 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
- 2016-02-17 - 2016-06-29 - G01R31/3181
- 本发明提供了一种SRAM型FPGA触发器抗单粒子效应性能评估系统及方法，该试验系统包括上位机和测试板；测试板包括控制处理FPGA、配置PROM、刷新芯片、存储PROM、SRAM及被测FPGA；上位机负责流程控制和数据处理；测试板负责处理上位机发送的命令并进行触发器单粒子翻转检测。本发明通过使用FPGA内置CAPTURE模块把触发器数据捕获到配置存储器中并回读比较来完成触发器SEU(Single‑Event Upset)静态测试，使用由触发器配置而成的移位寄存器链输入输出数据序列对比来完成触发器SEU(Single‑Event Upset)动态测试，系统可以对SRAM型FPGA触发器抗单粒子效应性能进行稳定可靠的评估。
- 一种芯片片上三态信号检测装置-201520560471.8
- 陈晓龙;沈煜;金学成 - 英特格灵芯片（天津）有限公司
- 2015-07-29 - 2016-01-20 - G01R31/3181
- 本实用新型涉及一种芯片片上三态信号检测装置。第一电流源与第一开关第一端相连，第一开关第二端与第二开关第一端相连，第二开关第二端与第二电流源相连。控制器第一输入端与第一开关、第二开关分别相连，形成两种不同的拓扑结构。电阻一端连接至三态输入信号，另一端与比较器相连，以便比较器比较其第一输入端电压与参考电压大小关系。比较器输出端与控制器相连，以便控制器基于所述比较结果检测出所述输入信号状态。本实用新型检测功耗低，检测结果可靠性高，可广泛应用于芯片接口信号片上检测领域。
- 一种SAS 12G RX链路的信号完整性测试方法-201510223211.6
- 贾永涛 - 浪潮电子信息产业股份有限公司
- 2015-05-05 - 2015-08-05 - G01R31/3181
- 本发明公开一种SAS 12G RX链路的信号完整性测试方法，属于计算机测试设计领域；方法为：将SAS控制器的TX端口与RX端口通过SAS信号测试夹具进行信号连接，形成一个回路；码型发生器控制TX端发出特定数据码形，RX端接收此特定数据码形；在接收一定的bit数据后检查RX端的误码；若没有误码，RX链路的信号完整无需优化；若有误码产生，RX链路存在信号完整性问题，进行优化，直至测试没有误码产生；本发明大大减少了人为操作带来的误差，提升了测试的准确度。
- 一种跨时钟域同步器内部常数测试电路和方法-201410811176.5
- 王鹏;田毅;范毓洋;阎芳;薛茜男;赵长啸 - 中国民航大学
- 2014-12-22 - 2015-04-22 - G01R31/3181
- 一种跨时钟域同步器内部常数测试电路和方法。测试电路包括：异步数据单元、待检测单元、第一亚稳态计数单元、第二亚稳态计数单元、模式选择单元和计时单元。本发明公开了一种进行跨时钟域同步器MTBF评估时使用的同步器内部常数的测试电路和方法。其包括对同步器内部常数测试电路的设计实现、测试操作及数据计算的内容。本发明解决了进行跨时钟域同步器MTBF评估时同步器内部常数难以准确获得的问题，可应用在由主从锁存器工艺参数不同的寄存器构成的同步器中，提高了同步器内部常数测试结果的可靠性。
- 一种基于JTAG接口的单粒子辐照试验测试系统及方法-201410706041.2
- 陈雷;赵元富;文治平;周婧;李学武;王硕;陈勋;孙雷;冯长磊;王媛媛 - 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
- 2014-11-27 - 2015-04-01 - G01R31/3181
- 一种基于JTAG接口的单粒子辐照试验测试系统及方法，该试验系统包括上位机和测试板；测试板包括SRAM，配置PROM，控制处理FPGA与被测FPGA；控制处理FPGA包括串口通信模块、过程控制模块、被测FPGA配置模块，JTAG回读模块及SRAM读写模块；被测FPGA上搭载简单功能；上位机负责流程控制和数据处理；控制处理FPGA负责处理上位机发送的命令并进行单粒子翻转、单粒子功能中断检测等工作。本发明使用控制处理FPGA与被测FPGA的JTAG接口相连，通过JTAG接口实现单粒子翻转检测，系统更加稳定，结果更加可靠，并且可以自动识别被测FPGA的器件型号，自适应不同型号被测FPGA的单粒子辐照试验测试。
- 芯片-201420587779.7
- 李长征 - 上海华力创通半导体有限公司
- 2014-10-11 - 2015-02-04 - G01R31/3181
- 本实用新型涉及一种芯片，包括固化存储电路、切换逻辑电路、以及芯片逻辑电路，所述固化存储电路连接所述切换逻辑电路，所述切换逻辑电路连接所述芯片逻辑电路，所述固化存储电路内存储有固化测试向量，所述固化测试向量匹配于所述芯片逻辑电路。采用在芯片的逻辑电路上一起集成固化存储电路和切换逻辑电路，节省了传统测试方法中的外围板，节省了向量存储单元，节约成本，缩短测试时间，而且可以使得测试环境小型化。将固化存储电路和切换逻辑电路与芯片逻辑电路集成于芯片中，实现直接传送测试向量电信号至芯片逻辑电路中进行芯片测试，传送速度远高于传统方法中通过芯片管脚进入芯片逻辑电路。
- MCU的测试方法和系统-201310073380.7
- 朱龙钦 - 上海宏测半导体科技有限公司
- 2013-03-07 - 2014-09-10 - G01R31/3181
- 本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种MCU的测试方法和系统。本发明中，对通过开短路测试的MCU，在没有烧写频率时，进入IRC测试模式，进行频率校准，执行测试矢量之后，用TMU测试测量频率输出端（P12）的频率，根据测得的频率算出MM值；接着，将VDD、VPP和VIH的电压调整到5伏，将根据频率输出端测得的频率算出的MM值代入测试矢量，执行测试矢量之后，测量频率输出端的频率；并在测得的频率不在预设的门限内时，判定MCU为不合格。通过IRC频率校验和烧写，对MCU的输出频率进行微调，从而确保频率校准无误，MCU的功能全部正常。
- 数字电路故障检测电路及利用该电路测试故障的方法-201410211193.5
- 朱敏;陈宇;刘永丹;杨春玲;王荔 - 哈尔滨工业大学
- 2014-05-16 - 2014-07-30 - G01R31/3181
- 数字电路故障检测电路及利用该电路测试故障的方法，涉及数字电路故障检测领域。本发明解决了现有数字电路故障检测电路和检测方法均无法确切的识别开路状态，以及需要测试的电路网络比较多时，故障检测的过程复杂的问题。本发明采用两个互补的三极管，根据输入信号的高电平、低电平、开路三种不同状态，使两个三极管产生与之对应的导通\关断状态组合，从而反应出输入信号的实际状态；输出模块用于将三极管的导通\关断状态组合以数字信号的形式输出，由光耦器件构成。本发明适用于数字电路故障检测。
- 基于窗函数设计的滤波器性能检测方法和系统-201410058979.8
- 李桂愉;杨超;肖恒辉;陈运动;赖志坚 - 广东省电信规划设计院有限公司
- 2014-02-20 - 2014-05-28 - G01R31/3181
- 一种基于窗函数设计的滤波器性能检测方法和系统，其中方法包括步骤：计算基于窗函数设计的滤波器的频谱函数；确定所述频谱函数的实部和虚部，并根据所述实部和虚部获取滤波器的频谱主瓣宽度；求解频谱函数的旁瓣峰值，获得滤波器的旁瓣峰值；根据所述频谱主瓣宽度和旁瓣峰值确定滤波器的滤波性能。本发明的技术方案，在基于窗函数的滤波器设计中，通过快速计算窗函数的频谱的主瓣宽度和旁瓣峰值，进而实现对滤波器滤波性能的检测，实现对滤波器性能的客观评价，有利于基于窗函数的滤波器的设计与选择，有利于根据不同的场景选择不同的滤波器。
- 一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法-201310724722.7
- 陈雷;周婧;赵元富;文治平;齐畅;刘泓;武斌;王硕;李学武;加春雷 - 北京微电子技术研究所;中国运载火箭技术研究院
- 2013-12-24 - 2014-04-23 - G01R31/3181
- 本发明提供了一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法，该试验系统包括上位机、电流监测采集板和测试板；电流监控采集板包括电流监控采集FPGA、电流采集单元、供电模块和第一通信接口；测试板包括控制处理FPGA、刷新芯片、SRAM、配置PROM、存储PROM、第二通信接口及被测FPGA；上位机负责流程控制和数据处理；电流监控采集板负责测试板的上电、断电和监测测试FPGA电流；测试板负责处理上位机发送的命令并进行单粒子翻转、单粒子功能中断检测等工作。本发明使用刷新芯片代替现有辐照试验系统中的部分重配模块，可以更方便可靠地对被测芯片进行刷新；且本发明能够实现对触发器进行静态和动态翻转测试，结合两种方法可以得到更可靠的触发器翻转数据。
- 用于测试数字控制单元的X121输入输出端口的测试板-201320193301.1
- 管华明 - 西门子工厂自动化工程有限公司
- 2013-04-17 - 2013-11-13 - G01R31/3181
- 本实用新型提供一种用于测试数字控制单元的X121输入输出端口的测试板，包括：数字量输入信号接口测试模块、测量头信号接口测试模块、数字量输出信号接口和手轮信号接口测试模块，其中在数字量输出信号接口和手轮信号接口测试模块中，将数字量输出信号作为用于测试手轮信号接口的输入信号。本实用新型的测试板将对于X121端口的数字量输入信号接口、测量头信号接口、数字量输出信号接口和手轮信号接口的测试功能集成到一块电路板上，大大简化了X121端口测试所需的接线类型和接线数量；而且该测试板利用数字量输出信号作为用于测试手轮信号接口的测试输入信号，减少了用于手轮信号接口测试的相应测试设备。
- 一种集成电路的测试装置及方法-201310146344.9
- 索鑫 - 上海宏力半导体制造有限公司
- 2013-04-24 - 2013-08-28 - G01R31/3181
- 本发明涉及一种集成电路的检测装置及方法。所述检测装置包括：输入单元，包括与所述输入通道连接的串行输入端及与待测芯片输入端对应的至少一个并行输出端；至少一个第一控制开关，用于在使能时使对应并行输出端与所述待测芯片输入端之间导通、在禁能时使对应并行输出端与所述待测芯片输入端之间关断；控制单元，用于为所述至少一个第一控制开关并行提供控制信号，所述第一控制开关设置为当所接收的控制信号为第一电平时使能、当所接收的控制信号为第二电平时禁能；输出单元，包括与待测芯片输出端对应的至少一个并行输入端及与所述输出通道连接的串行输出端。本发明技术方案能够完善芯片的并行测试。
- 集成电路及其测试方法-201110365803.3
- 林树森 - 华邦电子股份有限公司
- 2011-11-17 - 2013-05-22 - G01R31/3181
- 本发明公开了一种集成电路，包括，一测试垫单元、一存储单元阵列、一第一切换单元、一边界扫描单元、一第二切换单元。测试垫单元在一测试模式下，传送一第一测试信息、第二测试信息或是一测试结果。存储单元阵列储存第一测试信息。第一切换单元在测试模式下，根据一第一使能信号，将第一测试信息传送给存储单元阵列，或根据一读取信号，将存储单元阵列所储存的一数据作为测试结果，传送至测试垫单元。边界扫描单元将第二测试信息转换成一扫描信息。第二切换单元在测试模式下，根据一第二使能信号，传送扫描信息给测试垫单元。
- 一种基于故障模型的集成电路测试方法-201210555231.X
- 于明;张东;高剑 - 北京自动测试技术研究所
- 2012-12-19 - 2013-04-24 - G01R31/3181
- 本发明公开了一种基于故障模型的集成电路测试方法。该测试方法中，首先建立若干故障模型，故障模型包括乘积项阵列和输出阵列；针对故障模型分别提供与故障模型相匹配的测试向量，对待测集成电路器件进行相应的测试；最后，通过各项测试结果进行相应的故障诊断，从而获知待测集成电路器件是否正常。本发明克服了现有技术中引入外加电路占用器件本身电路资源以及对器件某一个节点控制和检验难以实现的不足，故障覆盖率达到100%，简洁高效；提高了测试效率，减少了测试时间和测试成本。
- 一种内建自测试装置及一种使用片上系统进行测试的系统-201120552306.X
- 粟雅娟;陈岚 - 中国科学院微电子研究所
- 2011-12-26 - 2013-03-27 - G01R31/3181
- 本实用新型公开了一种内建自测试装置及一种使用片上系统进行测试的系统可以独立于IP核之外，适用于多个IP，包括：测试图形发生器、存储器、控制器和测试响应压缩器，存储器存储参考特征向量及随机种子；测试图形发生器根据输入的测试数据和随机种子产生测试图形并加载到所述IP核中；测试响应压缩器将所述IP核返回的测试响应数据压缩为测试特征向量；控制器根据所述测试特征向量与所述参考特征向量的比较结果获得测试结果。本实用新型使得IP中可以不用再设置传统的内建自测试装置。因此，本实用新型可以减小IP的面积。
- 一种DSP芯片功能测试装置-201220262432.6
- 潘勇先;刘丽 - 中国电子科技集团公司第三十八研究所
- 2012-06-05 - 2012-12-19 - G01R31/3181
- 本实用新型公开了一种DSP芯片功能测试装置，其用于检测待测DSP芯片的功能，其包括电路板以及安装在电路板上的DSP芯片插座、FPGA芯片、SDRAM芯片、FLASH芯片、功能合格的DSP芯片以及故障指示灯，DSP芯片插座插接待测DSP芯片，待测DSP芯片的四个链路口分别与功能合格的DSP芯片的四个链路口电性连接，两个DSP芯片均通过地址总线和数据总线与FPGA芯片、SDRAM芯片、FLASH芯片连接，故障指示灯与FPGA芯片连接。本实用新型的优点在于：可以对ADSP-TS201器件自动进行功能测试，从而可以判定器件可不可以正常工作，提早发现有问题的器件，可以缩短产品开发周期、降低成本。
- 测试电子装置-201080065881.5
- D.D.佩龙;R.D.马修斯;T.G.阿恩 - 惠普发展公司;有限责任合伙企业
- 2010-03-31 - 2012-12-05 - G01R31/3181
- 公开的实施例涉及包括处理器和机器可读存储介质的电子装置，所述机器可读存储介质可包括用于测试电子装置的指令，所述指令包括用于执行可执行文件的指令以及用于用信号通知所述可执行文件启动对电子装置的测试的指令。所述机器可读存储介质还可包括用于在电子装置上的操作系统引导之前并在所述可执行文件完成执行之前，从所述可执行文件接收关于测试的信息的指令。
- 状态保留电路中状态完整性的检验-201210175505.2
- 大卫·沃尔特·弗莱恩;萨辛·萨蒂什·伊德冈吉 - ARM有限公司
- 2012-05-28 - 2012-11-28 - G01R31/3181
- 涉及状态保留电路中状态完整性的检验。数据处理设备包括执行数据处理操作的数据处理电路。多个状态保留电路形成数据处理电路的一部分，这些电路在数据处理电路进入低功率模式时保持数据处理电路的各节点处的各状态值。一条或多条扫描路径将多个状态保留电路串联连接在一起，使得状态值能被扫描进各节点和从各节点扫描出。多个奇偶信息生成元件耦合到扫描路径并生成奇偶信息，奇偶校验信息指示由状态保留电路在各节点处保持的各状态值。多个奇偶信息生成元件布置来提供一条或多条奇偶路径，使得如果各状态值中的一个状态值改变则在奇偶路径的输出处生成的输出奇偶值将翻转，从而提供对于状态保留电路所保持的状态值的完整性的外部指示。
- 基于片上系统或系统级封装的内建自测试系统-201210253425.4
- 朱洪宇;李慧云;徐国卿 - 中国科学院深圳先进技术研究院
- 2012-07-20 - 2012-11-07 - G01R31/3181
- 一种基于片上系统或系统级封装的内建自测试系统，包括：波形发生器，用于生成测试用电压激励信号；波形控制器，与波形发生器相连接，用于接收并处理测试用电压激励信号，输出波形参数可控的数字量激励信号；数模转换器，用于接收数字量激励信号并将数字量激励信号转换为模拟量激励信号；待测模数转换器，用于将模拟量激励信号转换为数字序列并将数字序列输送至波形控制器；以及处理器，与波形控制器相连接，用于向波形控制器输入控制数字量激励信号波形参数的指令、通过波形控制器采集数字序列并转换为直方图数据进行保存。上述基于片上系统或系统级封装的内建自测试系统，减少了片内集成的器件，占用芯片空间较小，增加了系统的可靠性。
- 专利分类
