[发明专利]一种红外处理ADC电路性能比测方法

说明书

本发明涉及一种红外处理ADC电路性能比测方法,使被测红外处理ADC电路与标准红外处理ADC电路对同一信号源进行采集，对比分析两个被测ADC电路与标准ADC电路测试结果，进而客观评价被测红外处理ADC电路性能与标准红外处理ADC电路之间的差异。该方法可快速评价红外处理ADC电路的优劣。本发明方法可快速对比被测ADC电路与标准ADC电路测试结果，客观评价被测ADC电路性能与标准ADC电路之间的差异。该方法可快速评价ADC电路的优劣。

技术领域

本发明属于红外探测器应用领域，涉及一种红外处理ADC电路性能比测方法。可快速对比被测ADC电路与标准ADC电路测试结果，客观评价被测ADC电路性能与标准ADC电路之间的差异。该方法可快速评价ADC电路的优劣。

背景技术

由于红外探测器输出模拟电压，需要经ADC电路数字化后便于后续处理。ADC电路采样效果的好坏影响着成像组件对微小和远距离目标的探测能力。通过本发明，可快速对比被测ADC电路与标准ADC电路测试结果，客观评价被测ADC电路性能与标准ADC电路之间的差异。该方法可快速评价ADC电路的优劣。具有很强的实用性。

发明内容

要解决的技术问题

为了避免现有技术的不足之处，本发明提出一种红外处理ADC电路性能比测方法

技术方案

一种红外处理ADC电路性能比测方法，其特征在于步骤如下：

步骤1：以一块性能指标满足使用要求的ADC电路作为标准ADC电路；

步骤2：根据需要选取某一ADC电路的性能指标为敏感指标；

步骤3：搭建该敏感指标的测试环境；

步骤4：在一小时内分别测试标准ADC电路和被测ADC电路的敏感指标；

步骤5：若被测ADC电路的敏感指标不低于标准ADC电路的敏感指标，则该被测电路满足使用要求。

所述步骤4：先测试被测ADC电路，后测试标准ADC电路；或先测试标准ADC电路，后测试被测ADC电路。两次测试必须在同一时间、同一环境下完成测试，且中间间隔尽可能的短。为消除其他不可控因素，在测试环境搭建后，要求完成整个测试流程时间不大于1小时。

有益效果

本发明提出的一种红外处理ADC电路性能比测方法,使被测红外处理ADC电路与标准红外处理ADC电路对同一信号源进行采集，对比分析两个被测ADC电路与标准ADC电路测试结果，进而客观评价被测红外处理ADC电路性能与标准红外处理ADC电路之间的差异。该方法可快速评价红外处理ADC电路的优劣。

本发明方法可快速对比被测ADC电路与标准ADC电路测试结果，客观评价被测ADC电路性能与标准ADC电路之间的差异。该方法可快速评价ADC电路的优劣。通过对比分析，筛选出性能指标不低于标准红外处理ADC电路的被测电路。具有很强的实用性。

附图说明

图1是本发明的具体实现流程示意图

具体实施方式

现结合实施例、附图对本发明作进一步描述：

一种中波智能型640×512面阵F2探测器使用的ADC电路性能比测方法，其特征在于步骤如下：

步骤1：随机选取一块性能指标满足使用要求的中波智能型640×512面阵F2探测器使用的ADC电路作为标准ADC电路；

步骤2：根据需要选取该ADC电路的信噪比为敏感指标；

步骤3：搭建红外处理ADC电路信噪比测试环境；