[发明专利]电路仿真方法及设备有效
申请号: | 202110372941.8 | 申请日: | 2021-04-07 |
公开(公告)号: | CN112966465B | 公开(公告)日: | 2022-04-26 |
发明(设计)人: | 徐帆 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | G06F30/392 | 分类号: | G06F30/392;G06F30/398 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 张娜;刘芳 |
地址: | 230011 安徽省合肥*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电路 仿真 方法 设备 | ||
1.一种电路仿真方法,其特征在于,所述方法包括:
确定电路原理图的顶层结构与最小电路单元层;其中,所述最小电路单元层中至少包括一个目标电路单元;
确定所述最小电路单元层中的各个目标电路单元在电路版图布局中的面积,以及确定所述各个目标电路单元在电路版图布局中的相对分布位置;
基于所述顶层结构、所述各个目标电路单元,以及所述各个目标电路单元在所述电路版图布局中的面积与相对分布位置,生成第一电路结构;
在所述第一电路结构中添加寄生效应电路,生成所述电路原理图对应的目标电路结构,并基于所述目标电路结构进行仿真;
所述基于所述顶层结构、所述各个目标电路单元,以及所述各个目标电路单元在所述电路版图布局中的面积与相对分布位置,生成第一电路结构,包括:
按照各个目标电路单元在电路版图布局中的面积,调整各个目标电路单元的面积大小;按照各个目标电路单元在电路版图布局中相对分布位置,调整各个目标电路单元的相对分布位置,并将调整后的电路结构作为第一电路结构;其中,各个目标电路单元在第一电路结构中的面积大小与各个目标电路单元在电路版图布局中的面积大小相同或者成一定比例,各个目标电路单元在第一电路结构中的相对分布位置与各个目标电路单元在电路版图布局中的相对分布位置相同;
所述在所述第一电路结构中添加寄生效应电路,包括:
根据所述第一电路结构中的各个电路符号的引脚位置,确定所述寄生效应电路中的各个寄生元件的寄生参数;根据所述寄生效应电路中的各个寄生元件的寄生参数,在所述第一电路结构中添加所述寄生效应电路。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述最小电路单元层中的各个目标电路单元在电路版图布局中的面积,包括:
遍历所述各个目标电路单元,并确定遍历到的各个目标电路单元是否属于标准电路单元;
若当前遍历到的目标电路单元属于标准电路单元,则根据标准电路单元库中所述目标电路单元对应的版图大小,确定当前遍历到的目标电路单元的面积;
若当前遍历到的目标电路单元不属于标准电路单元,则根据当前遍历到的目标电路单元所采用的标准元器件,确定当前遍历到的目标电路单元的面积。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据当前遍历到的目标电路单元所采用的标准元器件,确定当前遍历到的目标电路单元的面积,包括:
确定当前遍历到的目标电路单元所采用的各个标准元器件的版图面积;
将所述各个标准元器件的版图面积之和确定为当前遍历到的目标电路单元的面积。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述各个目标电路单元在电路版图布局中的相对分布位置,包括:
获取所述电路原理图对应的位置分布规则;
根据所述位置分布规则,确定所述各个目标电路单元在所述电路版图布局中的相对分布位置。
5.根据权利要求1或4所述的方法,其特征在于,所述基于所述顶层结构、所述各个目标电路单元,以及所述各个目标电路单元在所述电路版图布局中的面积与相对分布位置,生成第一电路结构,包括:
根据所述各个目标电路单元在所述电路版图布局中的面积,生成所述各个目标电路单元对应的电路符号,其中,所述各个目标电路单元对应的电路符号的大小与所述各个目标电路单元在所述电路版图布局中的面积成正比;
基于所述顶层结构、所述各个目标电路单元对应的电路符号,与所述各个目标电路单元在所述电路版图布局中的相对分布位置,生成所述第一电路结构,其中,所述各个目标电路单元对应的电路符号在所述第一电路结构中的相对分布位置与所述各个目标电路单元在所述电路版图布局中的相对分布位置相同。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一电路结构中的各个电路符号的引脚位置,确定所述寄生效应电路中的各个寄生元件的寄生参数,包括:
根据所述第一电路结构中的各个电路符号的引脚位置,确定各个寄生元件的金属走线的长度;
根据所述各个寄生元件的金属走线的长度与所述金属走线预设的宽度,以及所述金属走线的方块电阻与单位面积寄生电容,确定所述第一电路结构中的各个寄生元件的寄生参数。
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