[发明专利]用于终点检测的动态或适应性追踪光谱特征有效

专利信息
申请号: 201610633597.2 申请日: 2011-04-20
公开(公告)号: CN106252220B 公开(公告)日: 2019-06-11
发明(设计)人: J·D·戴维;H·Q·李;T·C·利姆;G·K·H·拉姆 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: H01L21/304 分类号: H01L21/304;H01L21/66;B24B37/013;B24B49/12
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 侯颖媖
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 公开了用于终点检测的动态或适应性追踪光谱特征。一种控制研磨的方法包括以下步骤:研磨基板;以及接收选定光谱特征的识别、具有宽度的波长范围,及该选定光谱特征的特性以在研磨期间进行监视。在研磨该基板的同时测量来自该基板的光的一系列光谱。根据该系列光谱产生该选定光谱特征的该特性的一系列值。对于来自该系列光谱的至少一些光谱而言,基于该光谱特征在用于该系列光谱中的先前光谱的先前波长范围内的位置,产生修改波长范围,在该修改波长范围中搜寻该选定光谱特征,且确定该选定光谱特征的特性的值。
搜索关键词: 用于 终点 检测 动态 适应性 追踪 光谱 特征
【主权项】:
1.一种化学机械研磨系统,包括:平台,用于固持研磨垫;承载头,用于固持与所述研磨垫接触的基板;原位光学监视系统,配置为在研磨所述基板的同时测量来自所述基板的光的一系列光谱;以及控制器,配置为:接收选定光谱特征的识别、具有宽度的波长范围及所述选定光谱特征的特性,以在研磨期间进行监视,从所述原位光学监视系统接收所述一系列光谱,对于来自所述一系列光谱的至少一些光谱基于所述光谱特征在先前波长范围内的位置产生修改波长范围,所述先前波长范围用于所述一系列光谱中的先前光谱,在所述光谱的所述修改波长范围内搜寻所述光谱特征,以及确定所述选定光谱的特性的值以产生一系列值,以及基于所述一系列值确定研磨终点或对于研磨速率的调整中的至少一个。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料公司,未经应用材料公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610633597.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top