[发明专利]具有水平校正功能的键合设备及其水平校正方法在审
申请号: | 202210343994.1 | 申请日: | 2022-03-31 |
公开(公告)号: | CN116936401A | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 林俊成;张容华;张茂展 | 申请(专利权)人: | 天虹科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 孙皓晨 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明为一种具有水平校正功能的键合设备,主要包括一第一腔体、一第二腔体、一压合单元、一载台、复数个水平调整单元及复数个距离量测单元。第一腔体用以连接第二腔体,并在两者之间一密闭空间。压合单元设置在第一腔体内,而载台则设置在第二腔体内。压合单元面对载台,并用以键合放置在载台上的基板。水平调整单元设置在第一腔体上,而距离量测单元设置在第二腔体上。距离量测单元用以将感测光束投射至压合单元,以量测压合单元的水平,并通过水平调整单元调整压合单元的水平。 | ||
搜索关键词: | 具有 水平 校正 功能 设备 及其 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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