[发明专利]一种电池片缺陷检测及颜色分选机构在审
申请号: | 202310929405.2 | 申请日: | 2023-07-27 |
公开(公告)号: | CN116936394A | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 杨中明;杨美娟;肖凯 | 申请(专利权)人: | 江苏森标科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H02S50/10;G01N21/89;B07C5/34;B07C5/342;B07C5/38;B07C5/02;H02K7/116 |
代理公司: | 无锡华建知识产权代理事务所(普通合伙) 32767 | 代理人: | 孙建 |
地址: | 214000 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明涉及电池片检测技术领域,具体是一种电池片缺陷检测及颜色分选机构,包括基板,所述基板的顶部一侧设有底盘,所述底盘的顶部转动安装有旋转轴,所述旋转轴的顶部设有旋转盘,所述旋转盘的顶部绕其圆心依次设置有四个治具组件,所述基板的顶部绕旋转盘的圆心依次设有上下料组件、第一检测机构、翻转组件和第二检测机构,所述第一检测机构和第二检测机构的结构相同,所述底盘的顶部设有转动电机,所述转动电机的输出轴上设有主动齿轮,所述旋转轴上设有从动齿轮,所述从动齿轮与主动齿轮啮合,本发明第一检测机构和第二检测机构自动对其中的视觉检测摄像头进行自动降温操作,避免视觉检测摄像头高温烧毁,整个检测工作的正常。 | ||
搜索关键词: | 一种 电池 缺陷 检测 颜色 分选 机构 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏森标科技有限公司,未经江苏森标科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310929405.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造