[发明专利]一次转移多个晶片的固晶工艺在审

专利信息
申请号: 201910290966.6 申请日: 2019-04-11
公开(公告)号: CN109950183A 公开(公告)日: 2019-06-28
发明(设计)人: 罗会才 申请(专利权)人: 深圳市丰泰工业科技有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/683;H01L33/48
代理公司: 深圳市韦恩肯知识产权代理有限公司 44375 代理人: 黄昌平
地址: 518104 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种一次转移多个晶片的固晶工艺,包括如下步骤:将晶片以阵列形式排布并粘结在表面具有交联特性的胶层基膜上;获取待转移的线性连续排列的至少两个晶片的位置信息;采用负压吸嘴装置从晶片往基膜方向压住待转移线性连续排列的至少两个晶片,对基膜进行处理,使基膜上的胶层失去的粘性;基膜上的胶层失去粘性后,打开负压吸嘴装置的负压、吸住位于失去粘性的基膜上的待转移的线性连续排列的至少两个晶片;抬起负压吸嘴装置,将待转移的线性连续排列的至少两个晶片整体的移动到基板,基板上设有焊盘,所述焊盘上涂布上粘性材料。本申请每次可以转移一排晶片,转移效率成倍提高,减少转移芯片所需时间。
搜索关键词: 晶片 基膜 连续排列 负压吸嘴装置 胶层 一次转移 固晶 焊盘 基板 交联特性 粘性材料 阵列形式 转移效率 负压 排布 抬起 吸住 压住 粘结 芯片 移动 申请
【主权项】:
1.一种一次转移多个晶片的固晶工艺,其特征在于,包括如下步骤:a)将晶片以阵列形式排布并粘结在表面具有交联特性的胶层基膜上;b)获取待转移的线性连续排列的至少两个晶片的位置信息;c)采用负压吸嘴装置从晶片往基膜方向压住待转移线性连续排列的至少两个晶片,对基膜进行处理,使基膜上的胶层失去的粘性;d)基膜上的胶层失去粘性后,打开负压吸嘴装置的负压、吸住位于失去粘性的基膜上的待转移的线性连续排列的至少两个晶片;e)抬起负压吸嘴装置,将待转移的线性连续排列的至少两个晶片整体的移动到基板,基板上设有焊盘,所述焊盘上涂布上粘性材料。
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