[发明专利]垂直半导体装置在审
申请号: | 201910276163.5 | 申请日: | 2019-04-08 |
公开(公告)号: | CN110534524A | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | 李炅奂;姜昌锡;金容锡;林濬熙;金森宏治 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/11526 | 分类号: | H01L27/11526;H01L27/11556;H01L27/11573;H01L27/11582 |
代理公司: | 11286 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人: | 尹淑梅;刘灿强<国际申请>=<国际公布> |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 导电图案 上表面 垂直半导体装置 掩模图案 接触垫 阶梯形状 绝缘图案 接触塞 堆叠 基底 穿透 重复 | ||
公开了一种垂直半导体装置,该垂直半导体装置包括其中绝缘图案和导电图案交替且重复地堆叠在基底上的导电图案结构。导电图案结构包括具有阶梯形状的边缘部分。导电图案中的每个导电图案包括与边缘部分中的阶梯的上表面对应的垫区域。垫导电图案被设置为接触垫区域的上表面的一部分。掩模图案设置在垫导电图案的上表面上。接触塞穿透掩模图案以接触垫导电图案。
本申请要求于2018年5月23日在韩国知识产权局提交的第10-2018-0058097号韩国专利申请的优先权的权益,该韩国专利申请的公开内容通过引用全部包含于此。
技术领域
本公开的示例实施例涉及垂直半导体装置,更具体地,涉及具有结构稳定性的垂直半导体装置。
背景技术
已经开发了在基底上垂直堆叠存储器单元的垂直半导体装置。垂直半导体装置可以包括分别电连接到存储器单元的接触塞。
发明内容
根据示例实施例,公开涉及一种垂直半导体装置,该垂直半导体装置包括:基底;导电图案结构,在导电图案结构中,绝缘图案和导电图案交替且重复地堆叠在基底上,其中,导电图案结构包括具有阶梯形状的边缘部分,导电图案中的每个导电图案包括具有与边缘部分中的阶梯的上表面对应的上表面的垫区域;垫导电图案,接触垫区域的上表面的一部分;掩模图案,位于垫导电图案的上表面上;以及接触塞,穿透掩模图案以接触垫导电图案。
根据示例实施例,公开涉及一种垂直半导体装置,该垂直半导体装置包括:基底;导电图案结构,在导电图案结构中,绝缘图案和导电图案交替且重复地堆叠在基底上,其中,导电图案在与基底的上表面平行的第一方向上延伸,导电图案的边缘部分在第一方向上并且在与第一方向垂直且与基底的上表面平行的第二方向上具有阶梯形状,导电图案分别包括与阶梯的上表面对应的垫区域;垫导电图案,分别位于导电图案的垫区域上;掩模图案,分别位于垫导电图案上;以及接触塞,分别接触垫导电图案,并分别电连接到导电图案。
根据示例实施例,公开涉及一种垂直半导体装置,该垂直半导体装置包括:基底;导电图案结构,在导电图案结构中,绝缘图案和导电图案交替且重复地堆叠在基底上,其中,导电图案结构包括具有阶梯形状的边缘部分,导电图案中的每个导电图案包括与边缘部分中的阶梯的上表面对应的垫区域;间隔件,位于阶梯的壁上;垫导电图案,位于垫区域上并且远离间隔件;掩模图案,位于垫导电图案的上表面上;以及接触塞,穿透掩模图案以接触垫导电图案。
附图说明
图1是示出根据示例实施例的垂直半导体装置的剖视图。
图2A、图2B和图2C是示出根据示例实施例的垂直半导体装置的一部分的剖视图。
图3和图4是示出根据示例实施例的垂直半导体装置的平面图和透视图。
图5至图18是示出根据示例实施例的制造垂直半导体装置的方法的剖视图、平面图和透视图。
图19至图21是示出根据示例实施例的制造垂直半导体装置的方法的剖视图。
图22是示出根据示例实施例的垂直半导体装置的剖视图。
图23至图25是示出根据示例实施例的制造垂直半导体装置的方法的剖视图。
图26是示出根据示例实施例的垂直半导体装置的剖视图。
图27是示出根据示例实施例的垂直半导体装置的剖视图。
具体实施方式
现在将参照示出一些示例实施例的附图来更充分地描述各种示例实施例。然而,发明构思可以以许多可选择的形式来实施,而不应被解释为仅限于在这里阐述的示例实施例。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910276163.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:嵌入式闪存的制作方法
- 下一篇:半导体装置及其形成方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的